FIB-SEM and Tof-SIMS at Curtin University

文章来源: 发布时间:2023-12-22 11:30 作者: 浏览量:364
报告人:孙潇 研究员(澳大利亚科廷大学)
  
时 间:2023年12月22日(星期五)14:00-15:00
  
地 点:地质学系305教室
  
报告人简介:
  

孙潇研究员,澳大利亚科廷大学John de Laeter Centre(JdLc)中心研究员。本科毕业于西安交通大学,博士毕业于澳大利亚西澳大学孙潇研究员在微/纳米制造和材料/器件分析方面有着丰富的经验,目前研究主要聚焦于双聚焦离子束(FIB)和飞行时间二次离子质谱(Tof-SIMS)在矿物分析和矿物纳米尺度分析应用研究方面。本次报告将介绍科廷大学的FIB-SEM and Tof-SIMS两台设备运行和相关成功应用案例。